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尼康半导体检测设备 - WWW.SzTechnology.COM
精密测高/厚计
L200/L200A半导体8寸晶圆检查显微镜 ◆倍率：25×1500×
◆ 3-8寸晶片观察
OP-300 LCD及半导体
12寸晶圆大型检查显微镜 ◆倍率：15×-2000× ◆ LCD及12寸晶片专用
NWL-641/860半导体晶片检查输送机
◆4、5、6、8寸晶片传输检查专用 ◆可连接L150/L150A及
L200/L200A半导体显微镜
