尼康 半导体检测设备 - WWW.SzTechnology.COM

精密测高/厚计		 　

L200/L200A半导体8寸晶圆检查显微镜
◆倍率：25×1500×
◆ 3-8寸晶片观察   
OP-300 LCD及半导体12寸晶圆大型检查显微镜
◆倍率：15×-2000×  
◆ LCD及12寸晶片专用
　

L150/L150A高倍金相显微镜
◆倍率：25×-1500×           
◆3-6寸晶片及金属表面组织观察
NWL-641/860半导体晶片检查输送机
◆4、5、6、8寸晶片传输检查专用
◆可连接L150/L150A及L200/L200A半导体显微镜